產品(pin)可靠(kao)性(xing)測(ce)試是評估產品(pin)在(zai)特定條件下能夠持續運行而不出現故障的(de)能力。為了保(bao)證產品(pin)的(de)...
HAST試(shi)驗箱是一(yi)種用(yong)于測試(shi)半導體器件可(ke)靠性的設備,它可(ke)以模擬高溫(High Temperature)、高濕(...
HAST試驗箱是(shi)一種(zhong)用于測試電(dian)子(zi)產品在高溫高濕環(huan)境(jing)下的(de)性能的(de)設備,通過模擬(ni)極端環(huan)境(jing)條件,...
HAST試(shi)驗箱是一種用于(yu)加速產(chan)品(pin)壽命評估的不(bu)可或(huo)缺工具。在產(chan)品(pin)研發(fa)和生(sheng)產(chan)過(guo)程中,為了(le)提高...
HAST試驗箱是(shi)一種用于(yu)模擬高(gao)溫高(gao)濕環境(jing)的設(she)備,常用于(yu)對電(dian)子元器件(jian)、汽(qi)車零部件(jian)、航(hang)空航(hang)天...
HAST(Highly Accelerated Stress Test)試驗箱是一種用(yong)于在(zai)短(duan)時間內模擬產品在(zai)濕(shi)熱條件下(xia)的性能的測...